本篇文章给大家分享分光度计基线,以及分光光度计的conc对应的知识点,希望对各位有所帮助。
1、因此,提出了基线平直度的概念,紫外可见分光光度计的基线平直度是指每个波长上的光度噪声,它是用户最关心的技术指标之一。它是紫外可见分光光度计各个波长上主要分析误差的来源之一。它决定紫外可见分光光度计在各个波长下的分析检测浓度的下限(或决定各个波长下仪器的灵敏度)。
2、基线:①在三角测量中推算三角锁和三角网起算边长所依据的已知或实测边长。
3、在三角测量中,基线是指用于推算三角锁和三角网起始边长的已知或实测边长。
4、基线校正都是在测定样品前,先测一次空白溶剂,即基线校正{注:紫外吸收光谱中常用溶剂有己烷、庚烷、环己烷、二氧杂己烷、水、乙醇等等。特别是极性溶剂对溶质吸收峰的波长、强度及形状可能产生影响。
5、基线BL:图中的虚线。 背景B:基线与横坐标之间的距离,s-1。 半高宽(FWHM):(°),可用来表示伊利石的结晶度,自生高岭石的半高宽均很小;碎屑高岭石的半高宽则较宽。 峰高H:单位为s-1,常用于定性分析中,对于一种矿物的衍射峰,要换算成相对强度,峰高最大值强度为100,其余按比例换算。
因为紫外可见分光光度计是一个非常灵敏的仪器,所以它会发生检测数据的漂移。
基线就是让设置的波长段里,每一个波长点都对空白进行较零,然后存储每一个波长点的较零数据,在测量样品时扣除这些波长上本来不属于未知样品的数据,那么得出的就是未知样品的吸光度曲线,通过这个未知样品的曲线来分析样品的性质等。
它决定紫外可见分光光度计在各个波长下的分析检测浓度的下限(或决定各个波长下仪器的灵敏度)。它应是广大使用者非常注重的关键技术指标之一,所以,一切紫外可见分光光度计的设计者、生产者和使用者都要高度重视基线平直度这个技术指标。
1、分光光度计应如何调零?具体步骤如下:首先在使用紫外分光光度计前,用户应先了解仪器的结构和工作原理,以及各个操作旋钮的功能。在未接通电源前,应对仪器进行检查,电源线接线应牢固,通地要良好,各个调节旋钮的起始位置要正确,然后接通电源开关。
2、使用方法如下:可见分光光度计开机,开机前,检查电源插座是否接上;按“GO TO λ”键,输入设定波长;四个比色皿,其中R位置放置参比试样,其余三个放入待测试样。
3、分光光度法则是通过测定被测物质在特定波长处或一定波长范围内光的吸收度,对该物质进行定性和定量分析。常用的波长范围为:(1)200~400nm的紫外光区,(2)400~760nm的可见光区,(3)5~25μm(按波数计为4000cm-1~400cm-1)的红外光区。
4、双光束比单光束的优点是双光束同时检测样品光路和背景光路,可以扣除背景波动的影响,而单光束要达到相同的效果需要经常校零。
5、常用的波长范围为:(1)200~400nm的紫外光区,(2)400~760nm的可见光区,(3)5~25μm(按波数计为4000cm-1~400cm-1)的红外光区。所用仪器为紫外分光光度计、可见光分光光度计(或比色计)、红外分光光度计或原子吸收分光光度计。
那都是经过无数次的实验得出的结果,分光光度计测量不同的参数线性肯定不一样,不一定都是直线,基线的名称应该叫标准曲线。
基线就是让设置的波长段里,每一个波长点都对空白进行较零,然后存储每一个波长点的较零数据,在测量样品时扣除这些波长上本来不属于未知样品的数据,那么得出的就是未知样品的吸光度曲线,通过这个未知样品的曲线来分析样品的性质等。
使用样品溶剂为样品进行波长扫描,得到的扫描曲线为基线,不同溶剂、不同时间基线可能不同,因此需要对基线进行校正,校正后的基线称为校正基线,只有在校正基线后测定的扫描图谱波长的位置才准确。
使用样品溶剂为样品进行波长扫描,得到的扫描曲线为基线,不同溶剂、不同时间基线可能不同,因此需要对基线进行校正,校正后的基线称为校正基线,只有在校正基线后测定的扫描图谱波长的位置才准确。
基线就是让设置的波长段里,每一个波长点都对空白进行较零,然后存储每一个波长点的较零数据,在测量样品时扣除这些波长上本来不属于未知样品的数据,那么得出的就是未知样品的吸光度曲线,通过这个未知样品的曲线来分析样品的性质等。
因此,提出了基线平直度的概念,紫外可见分光光度计的基线平直度是指每个波长上的光度噪声,它是用户最关心的技术指标之一。它是紫外可见分光光度计各个波长上主要分析误差的来源之一。它决定紫外可见分光光度计在各个波长下的分析检测浓度的下限(或决定各个波长下仪器的灵敏度)。
那都是经过无数次的实验得出的结果,分光光度计测量不同的参数线性肯定不一样,不一定都是直线,基线的名称应该叫标准曲线。
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